代表用途例


落下衝撃の加速度測定・記録


※1 携帯電話(電子機器 等) 落下衝撃の計測



※パソコンは員数外

※2 小型デバイス(携帯電話、デジタルカメラ、化粧品ケース、ハードディスク等)
の落下試験、アプリケーションと実績例



[ 対象デバイス 例 ]  携帯電話、デジタルカメラ、化粧品ケース、ハードディスク等
[ 機器構成例 ] Model-2351A + Model-1607 + Model-9801

上記システム例で落下試験をおこないますと落下衝撃波形例のような半波波形がとれます。
この波形より衝撃のピーク、衝撃の作用時間等を確認することができます。
1607はフルスケールが±1Vです。上記波形例の時のフルスケールが1000Gだとすると
ピークは900mV位ですので900G、作用時間は440μsとわかります。
衝撃ピーク値、作用時間は落下させる高さ、落とす床の固さ、LPFフィルタの有無等で変化します。

ピーク値例(下記は経験上の推測です。実際に落下試験を行ったわけではございません。)
梱包材のなかにデバイスを入れて1mより落下させる->200G以下
携帯等の小型デバイスを30cm程度からタイル床に落下->1000G程度
携帯等の小型デバイスを1m程度からタイル床に落下->5000G以上

特長)小型センサ2351Aは0.2gと軽量ですので携帯電話、デジタルカメラ、化粧品等の小型デバイスの落下試験に最適です。またダイナミックレンジの広いチャージ振動計1607により.数G~10000Gまでの振動、衝撃計測が可能です。(衝撃計測以外にも小型デバイス の微小振動(プリンタの可動部,HDDの振動)などにも多数、実績がございます。)

※3 デジタルカメラ 落下衝撃試験・測定


[ 対象デバイス 例 ]  携帯電話、デジタルカメラ、化粧品ケース、ハードディスク等 電子精密機器
[ 機器構成例 ] MODEL-2351AMODEL-1340BMODEL-9801

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